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>PCT / HAST试验箱
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HAST试验箱采用温度与压力安全检知及门禁自动锁定控制系统，圆型测试槽与安全门环扣结构设计，当内箱压力越大时，反压会迫使安全门与箱体更加紧密之结合，故内箱压力须小于正常压力时，测试门才能被打开，因此而保证了操作人员的安全
不锈钢HAST高压加速寿命试验箱
不锈钢HAST高压加速寿命试验箱*主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体
pct高压加速老化试验箱
pct高压加速老化试验箱随着半导体可靠性的提高半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多
PCT高压加速寿命老化试验箱厂家
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高低温低气压试验箱
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带27对通电接线端子PCT高压加速老化试验箱
27对通电接线端子PCT高压加速老化试验箱可以分为分为“台式”和“立式”，这两种类型的主要区别就是在于能够实现的温度与湿度不同，大家可以根据不同的需要进行具体的选择。均匀度保证的风道系：统特殊防潮兼散热设计,不锈钢加长轴心循环马达+耐高/低温铝合金多翼式循环离心风轮
pct老化试验箱
pct老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节
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