双85恒温恒湿试验箱设备说明:
该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制
设备型号:TS-50 500×400×350(长×宽×高)
温度冲击型:A型-20℃~+150℃ B型-30℃~+150℃C型-40℃~+150℃
D型-50℃~+150℃ E型-60℃~+150℃F型-70℃~+150℃
双85恒温恒湿试验箱技术参数及详细配置:
技术参数
冲击方式:两箱式或三箱式(用户自选)
工作室温度冲击范围:A型-20℃~+150℃ B型-30℃~+150℃C型-40℃~+150℃ D型-50℃~+150℃ E型-60℃~+150℃F型-70℃~+150℃
高温室温度范围:60℃~150℃、 升温时间≤45分钟
低温室温度范围:根据用户选择的型号,降温时间≤45分钟
温度波动度:≤±0.5℃
高温室温度偏差:≤±2℃
低温室温度偏差:≤±2℃
温度恢复时间钟: ≤5分
工作室转换时间:≤10秒
冲击转换方式:两箱式为试件选择环境转换,三箱式为环境选择试件转换
高温室尺寸:700×700×350(深×宽×高)单位mm(LCR-50A)
低温室尺寸:700×700×350(深×宽×高)单位mm(LCR-50A)
双85恒温恒湿试验箱满足标准:
1.GB10589-89低温试验箱技术条件
2.GB11158-89高温试验箱技术条件
3.GB10592-89高低温试验箱技术条件
4.GB2423.1低温试验、试验A
5.GB2423.2高温试验、试验B
6.GB2423.22温度变化试验、试验N
7.IEC68-2-14试验N
8.Guo军标GJB150.3-86
9.Guo军标GJB150.4-86
10.GB2423.1-89电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法
11.GB2423.2-89电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法