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双85恒温恒湿试验箱

双85恒温恒湿试验箱

      双85恒温恒湿试验箱设备说明:

      该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制

      设备型号:TS-50 500×400×350(长×宽×高)

      温度冲击型:A型-20~+150  B型-30~+150C型-40~+150

      D型-50~+150  E型-60~+150F型-70~+150

      双85恒温恒湿试验箱技术参数及详细配置:

      技术参数


      冲击方式:两箱式或三箱式(用户自选)

      工作室温度冲击范围:A型-20~+150  B型-30~+150C型-40~+150  D型-50~+150  E型-60~+150F型-70~+150 

      高温室温度范围:60~150、 升温时间≤45分钟

      低温室温度范围:根据用户选择的型号,降温时间≤45分钟

      温度波动度:≤±0.5

      高温室温度偏差:≤±2

      低温室温度偏差:≤±2

      温度恢复时间钟: ≤5分

      工作室转换时间:≤10秒

      冲击转换方式:两箱式为试件选择环境转换,三箱式为环境选择试件转换

      高温室尺寸:700×700×350(深×宽×高)单位mm(LCR-50A)

      低温室尺寸:700×700×350(深×宽×高)单位mm(LCR-50A)


      双85恒温恒湿试验箱满足标准:

      1.GB10589-89低温试验箱技术条件  

      2.GB11158-89高温试验箱技术条件  

      3.GB10592-89高低温试验箱技术条件  

      4.GB2423.1低温试验、试验A  

      5.GB2423.2高温试验、试验B  

      6.GB2423.22温度变化试验、试验N  

      7.IEC68-2-14试验N  

      8.Guo军标GJB150.3-86  

      9.Guo军标GJB150.4-86  

      10.GB2423.1-89电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法  

      11.GB2423.2-89电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法  





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