HAST非饱和高压加速老化试验箱工作原理

一.设备特点：

1.HAST非饱和高压加速老化试验箱采用顶级进口品牌配件,整机1年免费保修.

2.PCT加速老化试验箱最新优化设计,美观大方,做工细节优良.

3.大容量水箱,试验时间长,全自动补水,试验不中断.

4.进口“SHIMAX”LED双数显高精度自能温控器,误差±0.1℃，或根据试验需要可采用真彩触摸屏控制器.

5.一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长.

6.电路整合设计,操作简单,维护方便.

二、产品应用：

  HAST非饱和高压加速老化试验箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于

严苛之温度.湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐

蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,

测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压.负荷等)，

加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

三、规范要求：

  HAST非饱和高压加速老化试验箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在

试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。

安全保护装置

A.误操作安全装置：高压加速老化试验箱锅门若未关紧则机器无法启动.

B.超压安全保护：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压.

C.超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.

D.防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.

E.手动安全保护排压伐.

四、半导体测试：

  HAST非饱和高压加速老化试验箱对半导体的PCT测试：PCT最主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的

温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装

原因：爆米花效应.动金属化区域腐蚀造成之断路.封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。