双85恒温恒湿试验箱设备说明：

该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制

设备型号：TS-50 500×400×350（长×宽×高）

温度冲击型:A型-20℃～+150℃  B型-30℃～+150℃C型-40℃～+150℃

D型-50℃～+150℃  E型-60℃～+150℃F型-70℃～+150℃

双85恒温恒湿试验箱技术参数及详细配置：

技术参数

冲击方式：两箱式或三箱式（用户自选）

工作室温度冲击范围:A型-20℃～+150℃  B型-30℃～+150℃C型-40℃～+150℃  D型-50℃～+150℃  E型-60℃～+150℃F型-70℃～+150℃ 

高温室温度范围:60℃～150℃、 升温时间≤45分钟

低温室温度范围:根据用户选择的型号,降温时间≤45分钟

温度波动度：≤±0.5℃

高温室温度偏差：≤±2℃

低温室温度偏差：≤±2℃

温度恢复时间钟： ≤5分

工作室转换时间：≤10秒

冲击转换方式：两箱式为试件选择环境转换,三箱式为环境选择试件转换

高温室尺寸：700×700×350（深×宽×高）单位mm（LCR-50A）

低温室尺寸：700×700×350（深×宽×高）单位mm（LCR-50A）

双85恒温恒湿试验箱满足标准：

1.GB10589-89低温试验箱技术条件  

2.GB11158-89高温试验箱技术条件  

3.GB10592-89高低温试验箱技术条件  

4.GB2423.1低温试验、试验A  

5.GB2423.2高温试验、试验B  

6.GB2423.22温度变化试验、试验N  

7.IEC68-2-14试验N  

8.Guo军标GJB150.3-86  

9.Guo军标GJB150.4-86  

10.GB2423.1-89电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法  

11.GB2423.2-89电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法